- Tytuł pełny:
- X-ray microscopy and X-ray microanalysis : proceedings of the Second International Symposium (Stockholm, 1960) / ed. A. Engström, V. Cosslett, H. Pattee
- Wydawca:
- Amsterdam [etc.] : Elsevier Publishing Company
- Rok wydania:
- 1960
- Temat:
- Spektroskopia rentgenowska - konferencje.
Radiografia - konferencje.
Książka